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2012年3月26日，測試應(yīng)用中心引進(jìn)國內(nèi)首臺最高可測試2500伏IGBT、MOSFET、二極管、功率三極管等動態(tài)參數(shù)的尖端測試設(shè)備—ITC57300動態(tài)參數(shù)測試儀，進(jìn)一步完善了測試應(yīng)用中心實驗室的測試能力。該設(shè)備由美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)，是一款高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試儀，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu)，最高測試電流可以達(dá)到400A，實現(xiàn)不同類型、同類型不同封裝、同類型同封裝不同參數(shù)的高精度全自動測試，是目前最具領(lǐng)先水平的完備可靠的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，其測試標(biāo)準(zhǔn)符合美軍標(biāo)MIL-STD-750E，可以滿足N溝道、P溝道器件、以及雙極型晶體管的各項動態(tài)參數(shù)的測試要求，且具有波形分析功能。